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通信 / 消费电子产品
U盘|硬盘|TF卡
检测项目: TF卡， 存储卡，SD卡
行业背景：
存储行业龙头企业常做的18项测试，质检报告有CNAS/CMA资质，可用于渠道交付、电商平台、投标等。
检测项目：
- 1、外观和尺寸测试
测试要求：
① 外观整洁，表面不应有凹痕、明显划伤、痕裂、变形、毛刺、霉斑缺陷。
② 面板外表面色调协调一致、无脱色、变色、色斑等。
③ 说明功能的文字和图形符号的标志应正确、清晰、端正牢固，指示明确。
试验方法：
外观检查时，应给予约 3001x 的均匀照度，目距 40±10cm，用视觉法检查。使用相应的测量器具，应满足测试要求。
试验分组：1~12#
- 2、基本功能测试
检测要求：
SD 卡能被多媒体识别，并能正常读写工作，满足格式化、文件的读出、写入、删除、压缩和解压缩等功能
试验方法：
将待测 SD 卡装入 USB 卡槽内，SD 卡能够被多媒体识别，并能正常读、写、删除等工作。
试验分组：1~12#
3、内存容量测试
检测要求：
- 标称容量 8GB 的 SD 卡，实际容量要求不小于 7.4GB；
- 标称容量 32GB 的 SD 卡，实际容量要求不小于 29.7GB；
- 标称容量 64GB 的 SD 卡，实际容量要求不小于 59.1GB；
- 标称容量 128GB 的 SD 卡，实际容量要求不小于 117.7GB；
- 标称容量 256GB 的 SD 卡，实际容量要求不小于 235.5GB；
试验方法：
将待测 SD 卡通过读卡器连接 PC，安装相应的驱动软件后，在操作系统中读取产品的容量信息，需要测试 10 次。应满足测试需求。
- 4、读写速度测试
检测要求：
- 要求实际测试满足 class10 及以上
- 读取速率：90MB/S
- 写入速率：顺序写入速度≥10MB/s 。随机写入速度 IOPS≥500（SD 卡协会 A1 等级标识）。
试验方法：
将待测 SD 卡通过读卡器连接 PC，用测试软件 CryStalDiskMark 3.3 获取其读写速度，反复测试 9次，需满足读写速度要求。
试验分组：1~12#
- 5、识别卡时间测试
检测要求：初始化时间低于 500ms。
试验方法：从 TF 卡上电开始，到 TF 卡初始化完成，时间 T≤500ms。
试验分组：1~3#
6、读写耐久性测试
检测要求：
要求在 15*24 小时不间断读写过程中，不能出现不可恢复的失败。
试验方法：
将待测 SD 卡装入多媒体卡槽内，运行 SD 卡读写耐久性测试软件进行测试 15*24 小时，查看***终运行记录，需满足读写耐久性要求。
注：目前 SD 卡读写耐久性测试软件针对 Di3.0 及以后的平台，后续如有新平台，选用对应平台软件进行测试。按照实际使用平台主机测试。
试验分组：1~3#
- 7、插拔测试
检测要求：SD 卡的插拔次数应不少于 5000 次。插拔声音与卡套配合锁止位置处需明显清脆。存储卡镀金导电触片应完好无脱落或因磨损露出底部基材。
试验方法：SD 卡的耐用性测试采用相应的物理插拔方法，观测存储卡镀金导电触片的脱落现象，应满足存储卡镀金导电触片应完好无脱落或因磨损露出底部基材。
拔插测试条件：0.4N~5N, 0.6~6 sec/cycle。
试验分组：1~3#
8、寿命测试
检测要求：
匹配 USB 主机测试SD 卡擦写次数应不少于 3000 次。
试验方法：设定固定的测试数据长度（不小于 5GB），通过测试软件重复对样品进行数据写入/校验/擦除操作 3000 次，完成测试后取出样品并检查卡片格式化是否正常。测试过程中不应读写出现错误或不识别等故障现象。测试结束格式化后读取卡片健康度，不应有坏块新增。
试验分组：1~3#
- 9、跌落测试
检测要求：
SD 卡裸卡在高度 1500mm 下自由跌落 10 次，卡片外观无异常且能正常使用。
试验方法：
按 GB/T2423.17“试验 Ed”进行。受试样品应进行初识检测，将不带包装的产品按本标准表2 的规定值进行跌落试验，每个面向下跌落 10 次。试验后检查存储卡的损坏情况，并对受试样品进行外观和结构的检查以及写入速度和存储容量测试。
试验分组：7~9#
10、盐雾测试
检测要求：
匹配 USB 主机测试SD 卡在 35℃不超过 3%NaCl 含量的盐雾中放置 24h，卡片外观无异常且能正常使用。
试验方法：
按 GB/T2423.17“试验 Ka”进行。受试样品应进行初识检测，在 35℃不超过 3%盐含量的盐水中放置 24h，溶液 PH 值调整到 6.5-7.2 内，试验后将受试样品进行冲洗干燥检查存储卡的损坏情况，并对受试样品进行外观和结构的检查以及写入速度和存储容量测试。
试验分组：7~9#
11、压力测试
检测要求：
SD 卡在任意面承压力不应小于 10N。
试验方法：
按 GB/T2423.5“试验 Ea”进行。受试样品应进行初识检测，将 10 片卡片一次分 3 个面在拉力试验机上以 10N 的压力测试，试验后检查存储卡的损坏情况，并对受试样品进行外观和结构的检查以及写入速度和存储容量测试。
试验分组：7~9#
- 12、扭矩特性测试
检测要求：SD 卡在 0.1N*m 扭矩下弯曲应在±2.5°以内。
试验方法：依据 GB/T9341 规定的方法进行测试。
试验分组：7~9#
13、高温耐久
检测要求：按平台测试要求
试验方法：
将已加载地图的 SD 卡装入多媒体系统卡槽内，并将多媒体系统置于试验箱内，试验箱温度设置为 85℃，在 85℃温度下放置 24H ;将试验箱温度从 85℃降温至 70℃，运行 SD 卡读写耐久性测试软件，在 70℃温度下持续工作 96H ;时间要求见下表，试验后需满足：将测试完 SD 卡装入 USB 卡槽内，SD 卡能够被多媒体识别，并能正常读、写、删除等工作的要求。
试验分组：4~6#
- 14、低温耐久
检测要求：按平台测试要求
试验方法：
将已加载地图的 SD 卡装入多媒体系统卡槽内，并将多媒体系统置于试验箱内，试验箱温度设置为-40℃，在-40℃温度下放置 8H ;将试验箱温度从-40℃升温至-30℃，运行 SD 卡读写耐久性测试软件，在-30℃温度下持续工作 96H ;时间要求见下表，试验后需满足将测试完 SD 卡装入 USB 卡槽内，SD 卡能够被多媒体识别，并能正常读、写、删除等工作要求。
试验分组：4~6#
- 15、高温贮存
检测要求：按平台测试要求
试验方法：
将待测 SD 卡装入多媒体系统卡槽内，并将多媒体系统置于试验箱内，试验箱温度设置为85℃，在 85℃温度下放置 96H 试验后需满足：将测试完 SD 卡装入 USB 卡槽内，SD 卡能够被多媒体识别，并能正常读、写、删除等工作要求。
试验分组：4~6#
16、低温贮存
检测要求：按平台测试要求
试验方法：
将待测 SD 卡装入多媒体系统卡槽内，并将多媒体系统置于试验箱内，试验箱温度设置为-40℃，在-40℃温度下放置 96H 试验后需满足：将测试完 SD 卡装入 USB 卡槽内，SD 卡能够被多媒体识别，并能正常读、写、删除等工作要求。
试验分组：4~6#
17、恒定湿热试验
检测要求：按平台测试要求
试验方法：
试验时间按下表要求进行试验，试验后需满足将测试完 SD 卡装入 USB 卡槽内，SD 卡能够被多媒体识别，并能正常读、写、删除等工作要求 。
试验分组：10~12#
- 18、抗静电试验
检测要求：
SD 卡接触放电试验等级测试电压应采用 4KV，空气放电试验等级测试电压采用 15KV。
试验方法：将待测 SD 卡拷入一些数据，静电放电按照以下表进行测试，试验结束后，SD 卡内的数据完好且满足将测试完的SD 卡装入 USB 卡槽内，SD 卡能够被多媒体识别，并能正常读、写、删除等工作要求。
试验分组：12~15#
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